Copyright (©) 2023 L. A. Myroniuk, D. V. Myroniuk, E. V. Maistruk, S. I. Kuryshchuk, A. I. Ievtushenko, I. M. Danylenko, V. V. Strelchuk, I. P. Koziarskyi
This work is licensed under a Creative Commons Attribution 4.0 International License.
L. A. Myroniuk
Інститут проблем матеріалознавства ім. І.М. Францевича Національної академії наук України; Чернівецький національний університет імені Юрія Федьковича
Україна
D. V. Myroniuk
Інститут проблем матеріалознавства ім. І.М. Францевича Національної академії наук України; Чернівецький національний університет імені Юрія Федьковича
Україна
E. V. Maistruk
Чернівецький національний університет імені Юрія Федьковича
Україна
S. I. Kuryshchuk
Чернівецький національний університет імені Юрія Федьковича
Україна
A. I. Ievtushenko
Інститут проблем матеріалознавства ім. І.М. Францевича Національної академії наук України
Україна
I. M. Danylenko
Інститут фізики напівпровідників ім. В.Є. Лашкарьова Національної академії наук України
Україна
V. V. Strelchuk
Інститут фізики напівпровідників ім. В.Є. Лашкарьова Національної академії наук України
Україна
I. P. Koziarskyi
Чернівецький національний університет імені Юрія Федьковича
Україна
Оголошення!
Відповідно до статті 22 Закону України «Про забезпечення функціонування української мови як державної» наукові видання України публікуються державною мовою, англійською мовою та/або іншими офіційними мовами Європейського Союзу. Згідно з цим, журнал «Хімія, фізика та технологія поверхні» приймає до розгляду лише статті, які написані українською або англійською мовою.